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北京恒遠(yuǎn)安諾科技有限公司

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  • SunScan 冠層分析系統(tǒng)
    SunScan 冠層分析系統(tǒng)

    通過(guò)測(cè)量作物冠層PAR值提供了關(guān)于影響田間作物生長(zhǎng)的限制因素的有價(jià)值的信息，如葉面積指數(shù)（LAI）。SunScan探測(cè)器也可被用來(lái)描繪作物冠層PAR的分布圖。

    更新時(shí)間：2024-06-19
  • TOP-2000冠層多譜輻射計(jì)
    TOP-2000冠層多譜輻射計(jì)

    冠層多譜輻射計(jì)可廣泛應(yīng)用于農(nóng)業(yè)生產(chǎn)和農(nóng)業(yè)科研。儀器具有TFT彩屏顯示接口、GPRS無(wú)線通訊接口、GPS定位接口等，可根據(jù)用戶(hù)須求升級(jí)硬件。實(shí)現(xiàn)光譜數(shù)據(jù)遠(yuǎn)程傳輸和GPS定位導(dǎo)航功能。

    更新時(shí)間：2024-06-19
  • *000植物冠層分析儀
    *000植物冠層分析儀

    植物冠層分析儀可廣泛應(yīng)用于農(nóng)業(yè)生產(chǎn)和農(nóng)業(yè)科研，為進(jìn)行冠層光能資源調(diào)查，測(cè)量植物冠層中光線的攔截，研究作物的生長(zhǎng)發(fā)育、產(chǎn)量品質(zhì)與光能利用間的關(guān)系.

    更新時(shí)間：2024-06-19
  • SunScan 無(wú)線冠層分析系統(tǒng)
    SunScan 無(wú)線冠層分析系統(tǒng)

    通過(guò)測(cè)量作物冠層PAR值提供了關(guān)于影響田間作物生長(zhǎng)的限制因素的有價(jià)值的信息，如葉面積指數(shù)（LAI）。SunScan探測(cè)器也可被用來(lái)描繪作物冠層PAR的分布圖。由于采用了無(wú)線發(fā)射、接受技術(shù)，使測(cè)量更加方便快捷。

    更新時(shí)間：2024-06-19
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